Главная → Каталог закупок → Поставка комплекса высокоточной зондовой профилометрии для контроля то…
Поставка комплекса высокоточной зондовой профилометрии для контроля топографии, шероховатости и толщины тонкопленочных покрытий
Отменена
17 883 333,33 RUB
Окончание подачи: 14.08.2026 11:00 Мск.
Информация о закупке
Информация о позициях
Документы закупки
Документация извещения
Протоколы
Итоговый протокол (электронный аукцион)
16.07.2026 11:39
Отмена закупки
13.10.2026 00:39
Условия контракта
Места поставки
г. Москва, вн.тер.г. муниципальный округ Дмитровский, ул. Ижорская д. 13, стр. 6
Срок поставки 2026-12-30+03:00
Контактная информация
Наименование заказчика ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ ТЕОРЕТИЧЕСКОЙ И ПРИКЛАДНОЙ ЭЛЕКТРОДИНАМИКИ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
ИНН / КПП 7713020549 / 771301001
Адрес 125412, Г.МОСКВА, вн.тер.г. МУНИЦИПАЛЬНЫЙ ОКРУГ ДМИТРОВСКИЙ, УЛ. ИЖОРСКАЯ, Д. 13, СТР. 6
Контакты
Контактное лицо, телефон и почта заказчика доступны после
бесплатной регистрации .